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gotthard » 17 apr 2015, 17:25
Ianero ha scritto:Per il 2 ok, per il primo non capisco perché è una approssimazione.
La corrente di gate in condizioni statiche è spesso assunta nulla; in realtà, alcuni elettroni riescono a "passare" il sottile ossido di silicio per effetto tunnel.
Questa corrente decresce esponenzialmente all' aumentare dello spessore dell' ossido, ed è molto piccola, credo dell' ordine dei pA.
Quindi, minore è lo spessore dell' ossido, e maggiore è questa corrente di perdita.
Per applicazioni dove i consumi devono essere veramente molto bassi, si è cominciato ad optare per ossidi costituiti da materiali con una costante dielettrica maggiore del SiO2 (che è, se non ricordo male, di 3.9), detti "High-k gate dielectrics" (vedi
qui).
La corrente di gate, "normalmente", è considerata trascurabile, ma può diventare considerevole durante le transizioni ON-OFF del mosfet, perché deve caricare/scaricare la capacità di gate, ma questo lo vedrai più avanti, quando studierai il mosfet come interruttore, nel corso di "Elettronica digitale", suppongo.
Un altro problema (di cui sono venuto a conoscenza 5 minuti fa

), a cui può incorrere un mosfet è il breakdown dell' ossido di gate (vedi
qui), che mi pare di capire dipenda non solo dallo spessore dell' ossido di gate, ma questa è un' altra storia...
